專利名稱 一種金屬構(gòu)件缺陷類型檢測(cè)方法
申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào) CN202510268817.5 專利權(quán)人（第一權(quán)利人） 長春工業(yè)大學(xué)
申請(qǐng)日 2025-03-07 授權(quán)日 2025-05-20
專利類別 授權(quán)發(fā)明 戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)分類 高端裝備制造
技術(shù)主題 分析化學(xué)|線性判別分析|成像功能|激光|檢測(cè)性能|材料科學(xué)|光譜
應(yīng)用領(lǐng)域 圖像分析|熱激發(fā)分析|光學(xué)測(cè)試瑕疵/缺陷
意向價(jià)格 具體面議
專利概述 本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N金屬構(gòu)件缺陷類型檢測(cè)方法，包括：制備具有不同缺陷類型的金屬構(gòu)件缺陷樣品和金屬構(gòu)件無缺陷樣品，以構(gòu)建樣品集；向每一個(gè)樣品的多個(gè)特定位置處發(fā)射脈沖激光，并同時(shí)采集該樣品的等離子體圖像和LIBS光譜；針對(duì)在該樣品同一特定位置處采集的等離子體圖像和LIBS光譜，分別提取等離子體圖像特征和LIBS光譜特征，以得到該樣品各特定位置處的融合特征，以及該樣品的融合特征趨勢(shì)；基于各樣品的融合特征趨勢(shì)和缺陷類型，利用線性判別分析法，構(gòu)建缺陷識(shí)別模型；采集待檢測(cè)金屬構(gòu)件的多個(gè)目標(biāo)位置處的等離子體圖像和LIBS光譜，以得到融合特征趨勢(shì)，并利用缺陷識(shí)別模型檢測(cè)缺陷類型。該方法通過結(jié)合等離子體圖像特征能夠提高缺陷類型的檢測(cè)性能。
圖片資料 一種金屬構(gòu)件缺陷類型檢測(cè)方法
合作方式 具體面議
聯(lián)系人 戚梅宇 聯(lián)系電話 13074363281